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胜高股份取得可识别滑移位错缺陷和失配位错缺陷的外延晶片检查方法专利

AI科技 2025年08月23日 13:25 0 aa

金融界2025年8月23日消息,国家知识产权局信息显示,胜高股份有限公司取得一项名为“外延晶片的缺陷检查方法”的专利,授权公告号CN114624251B,申请日期为2021年12月。

本文源自金融界

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